弹簧接触测试探针是电子测试中用于在测试仪器和被测设备 (DUT) 之间建立可靠电气连接的专用设备。这些探针采用弹簧加载机制，使其能够保持一致的接触压力，适应被测设备表面的变化，同时最大限度地减少磨损并确保准确的信号传输。弹簧接触探针通常用于电路板测试、半导体测试和自动测试系统等应用，具有耐用性和灵活性，是测试环境中高精度测量和可靠性能的必备工具。

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　　电子、汽车和航空航天行业对精密测试的需求不断增长，推动了弹簧接触测试探针市场的发展。这些探针对于确保测试过程中可靠的电气连接至关重要，尤其是在半导体和 PCB 应用中。随着技术的进步，对电子设备小型化和更高性能的需求正在推动市场向高频探针和增强耐用性材料等创新方向发展。对质量保证的日益重视和制造业自动化的扩展进一步促进了市场增长，主要参与者专注于开发先进的解决方案以满足各种测试要求。

　　按产品类型：弹簧接触测试探针细分为：弹性探针、悬臂式探针、垂直式探针、其他

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　　按应用，本文重点关注以下领域：芯片设计厂、IDM企业、晶圆代工厂、封测厂、其他